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seagate希捷硬盘Building Self Test(自校准)  Self Test 是真正的low level format 具有良好维修效果. 边做磁讯号效果测试 边做servo pattern 写入 是工厂标准生产流程也是RMA必跑测试 像Seagte 是设计专用机台以TTL 连接硬碟通讯 限于智财权,东欧Hacker 想尽办法去做协定分析. 找出低阶通讯协定,再自行以软硬体去包装 使用昂贵 PC3000 UDMA 启动方法: 先从其他同系列 +同主控晶片组 硬碟备份LDR 从这开始 1.进入安全模式 如果是用 非UDMA 内建可切换电源 需要自己手动硬碟断电 通电  2.切换Bandrate 速度为921000 最高  Self Writing 启动方式 1.选这加载LDR :选Starting LDR  以安全模式加载 LDR 请参考图  如果是用 非UDMA 内建可切换电源 需要自己手动硬碟断电 通电1~2次 如果 CERT table 中有99要改掉(99=stop) CERT 可以另存 module 改掉 后 , 再额外指定 指令E4E 检查已做好的self Test 流程跟时间 (Exam 4E) 指令T4E 检验预定做的Self Test流程 1.终端下输入ctrl-z 把速度改回9600 bps 再输入 #,,22 (改序号 ) 按下Enter 前三码跟磁头有关 不可乱输入 如果磁头没变化就一样 (9QF12345) 再任意输入PW 五位数(12345 ok) 2.N2,,22 (2代表从第2步开始做 ,,22 是确定执行) , (所以 N94,,22 是 从 94 开始) 3. 再按下 ctrl -t执行 . 可以看到目前流程 : 可看age 硬碟AGE 说明 代表目前硬碟状况 硬盘安装和伺服校正测试 TEST 01 - 製造临时日志 TEST 02 - 格式化和测试错误日志 磁头和电路校正测试 TEST 03 - 伺服校正信息 TEST 04 - 斜波加载/卸载测试 TEST 05 - 传感器滞后测试 TEST 06 - 磁头切换测试 TEST 07 - RUNOUT补偿测试 TEST 08 - 当检查伺服错误时盘上写入2T类型 TEST 09 - 磁头低飞显示 TEST 0A - 磁头稳定性测试 TEST 0C - 读取伺服缺陷测试位置 TEST 0D - 重学RRO ZAP测试 TEST 0E - 寻找跳过柱面测试（还未实现过） TEST 0F - 当前写测试 磁头和电路校正测试 TEST 10 - 1E, 2A - 2E 适配区域#（最后区域）通过 0 -所有磁头 TEST 1F - 显示适配性，VCO，和DIODE温度设置 TEST 2F - 显示FIR适应性设置 伺服性能验证测试 TEST 20, TEST 60 - 伺服访问次数 TEST 21, TEST 25 - RRO/NRRO 测试 TEST 23 - 开始/停止 （10次） TEST 24 - 开始/停止 （2000次） TEST 29 - 伺服缺陷扫瞄 缺陷查找和再分配测试 TEST 30 - 验证所有磁盘组读取，AT级 TEST 31 - 楔形缺陷扫瞄. 磁头 0-1无读取级，50写级 TEST 32 - 楔形缺陷扫瞄. 磁头 2-3无读取级，50写级 TEST 36 - 在对磁头0-1楔形扫瞄中查找出来的缺陷进行定位 TEST 37 - 在对磁头2-3楔形扫瞄中查找出来的缺陷进行定位 TEST 3A - 使用1重複读取所有磁头抛光和缺陷测试，重複50次 TEST 3B - 建立缺陷表；填充受损磁头0，1 TEST 3C - 建立缺陷表；填充受损磁头2，3 TEST 3D - 建立缺陷表；填充受损磁头4，5 TEST 3E - 建立缺陷表；填充受损磁头6，7 TEST 3F - 回送测试，写通过测试 错误率性能测试 TEST 40- 开始/停止（10次） TEST 41- 磁道侵入 TEST 42- SPIN STAND模拟器- 区域较小错误碧绿 TEST 43- RAM 测试 TEST 46- 数据编译比率 TEST 47- 冷写/磁道擦除显示 TEST 48- 错误率，写通过 TEST 49- 写/读/比较（零式样） TEST 4A- 补偿系数检测 TEST 4B- 读 TEST 4B -所有磁道冷写显示 TEST 4C- 磁头飞行高度测量 TEST 4D- 收集自动FA数据 TEST 4E- 检查积累健康和创建自检概要 TEST 4F- 失败磁盘测试 TEST 50- 通过磁盘测试 |
