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希捷硬盘数据恢复

希捷老盘-U5系列LDR自校准

时间:2016-2-23 10:00:02   作者:管理员   来源:本站原创   阅读:1762   评论:0
内容摘要:seagate希捷硬盘Building Self Test(自校准)  Self Test 是真正的low level format 具有良好维修效果.边做磁讯号效果测试 边做servo pattern 写入是工厂标准生产流程也是RMA必跑测试像Seagte ...
seagate希捷硬盘Building Self Test(自校准)
Seagate希捷硬盘Building 

Seagate希捷硬盘Building 

Self Test 是真正的low level format 具有良好维修效果.
边做磁讯号效果测试 边做servo pattern 写入
是工厂标准生产流程也是RMA必跑测试
像Seagte 是设计专用机台以TTL 连接硬碟通讯 

限于智财权,东欧Hacker 想尽办法去做协定分析.
找出低阶通讯协定,再自行以软硬体去包装

使用昂贵 PC3000 UDMA 启动方法:

先从其他同系列 +同主控晶片组 硬碟备份LDR 

从这开始

1.进入安全模式   如果是用   非UDMA 内建可切换电源    需要自己手动硬碟断电 通电
Seagate希捷硬盘Building 

2.切换Bandrate 速度为921000 最高 

Seagate希捷硬盘Building 
Self Writing 启动方式

1.选这加载LDR :选Starting LDR 
Seagate希捷硬盘Building 
以安全模式加载 LDR 请参考图 
Seagate希捷硬盘Building 
如果是用   非UDMA 内建可切换电源    需要自己手动硬碟断电 通电1~2次

如果 CERT table 中有99要改掉(99=stop)   CERT 可以另存 module 改掉 后 , 再额外指定
指令E4E  检查已做好的self Test 流程跟时间 (Exam 4E) 
指令T4E  检验预定做的Self Test流程 
  
1.终端下输入ctrl-z
把速度改回9600 bps
再输入 #,,22  (改序号 ) 按下Enter  
前三码跟磁头有关 不可乱输入 如果磁头没变化就一样 (9QF12345)
再任意输入PW 五位数(12345  ok)

2.N2,,22  (2代表从第2步开始做 ,,22 是确定执行)  , (所以 N94,,22   是 从 94 开始) 

3. 再按下 ctrl -t执行
  
. 可以看到目前流程

: 可看age 
  硬碟AGE 说明 代表目前硬碟状况

硬盘安装和伺服校正测试
TEST 01 - 製造临时日志
TEST 02 - 格式化和测试错误日志
磁头和电路校正测试
TEST 03 - 伺服校正信息
TEST 04 - 斜波加载/卸载测试
TEST 05 - 传感器滞后测试
TEST 06 - 磁头切换测试
TEST 07 - RUNOUT补偿测试
TEST 08 - 当检查伺服错误时盘上写入2T类型
TEST 09 - 磁头低飞显示
TEST 0A - 磁头稳定性测试
TEST 0C - 读取伺服缺陷测试位置
TEST 0D - 重学RRO ZAP测试
TEST 0E - 寻找跳过柱面测试(还未实现过)
TEST 0F - 当前写测试 磁头和电路校正测试
TEST 10 - 1E, 2A - 2E 适配区域#(最后区域)通过 0 -所有磁头
TEST 1F - 显示适配性,VCO,和DIODE温度设置
TEST 2F - 显示FIR适应性设置 伺服性能验证测试
TEST 20, TEST 60 - 伺服访问次数
TEST 21, TEST 25 - RRO/NRRO 测试
TEST 23 - 开始/停止 (10次)
TEST 24 - 开始/停止 (2000次)
TEST 29 - 伺服缺陷扫瞄
缺陷查找和再分配测试
TEST 30 - 验证所有磁盘组读取,AT级
TEST 31 - 楔形缺陷扫瞄. 磁头 0-1无读取级,50写级
TEST 32 - 楔形缺陷扫瞄. 磁头 2-3无读取级,50写级
TEST 36 - 在对磁头0-1楔形扫瞄中查找出来的缺陷进行定位
TEST 37 - 在对磁头2-3楔形扫瞄中查找出来的缺陷进行定位
TEST 3A - 使用1重複读取所有磁头抛光和缺陷测试,重複50次
TEST 3B - 建立缺陷表;填充受损磁头0,1
TEST 3C - 建立缺陷表;填充受损磁头2,3
TEST 3D - 建立缺陷表;填充受损磁头4,5
TEST 3E - 建立缺陷表;填充受损磁头6,7
TEST 3F - 回送测试,写通过测试
错误率性能测试
TEST 40- 开始/停止(10次)
TEST 41- 磁道侵入
TEST 42- SPIN STAND模拟器- 区域较小错误碧绿
TEST 43- RAM 测试
TEST 46- 数据编译比率
TEST 47- 冷写/磁道擦除显示
TEST 48- 错误率,写通过
TEST 49- 写/读/比较(零式样)
TEST 4A- 补偿系数检测
TEST 4B- 读
TEST 4B -所有磁道冷写显示
TEST 4C- 磁头飞行高度测量
TEST 4D- 收集自动FA数据
TEST 4E- 检查积累健康和创建自检概要
TEST 4F- 失败磁盘测试
TEST 50- 通过磁盘测试


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